ICN2 – INSTITUT CATALÀ DE NANOCIÈNCIA I NANOTECNOLOGIA

Equipaments i infraestructures

• Recobridor de capes per sputtering
• Estereomicroscopi (lupa d’amplificació)
• Serra de Diamand de Fil
• Preparador de Mostres MultiPrep
• Pulidora
• Sistema de Litografia UV
• Alineador Òptic de màscares UV
• Equip d’Atac per Plasma Acoblat Inductiu (ICP-RIE)
• Soldador per Fil
• Sistema de Feix d’Ions Focalitzats (FIB)
• Espectroscopi Raman
• Microscopi òptic
• Microscopi de forces atòmiques (AFM)
• Microscopi electrònic de transmissió (TEM)
• Perfilòmetre
• Netejador per Plasma
• Microscopi electrònic d’escaneig secundari (SEM)
• Analitzador de la mida de partícula (DLS)
• Màquina de Tall
• Espectrofotòmetre ultraviolat-visible (UV-Vis)
• Analitzador angle de contacte (DSA)
• Difractòmetre de raigs X
• Espectrofotòmetre infraroig de reflectància total atenuada i/o transformada de Fourier (ATR-FT-IR)/(FT-IR)
• Espectrofotòmetre de Fotoelectrodes de Raigs X (XPS/ESCA i NAPP-XPS)