Atomic Force Microscopy / Microscopi de forces atòmiques (AFM)

Equipament/Infraestructura


Marca: VEECO

Model: VEECO Multimode

La microscòpia de forces atòmiques (AFM) és una tècnica en la qual una sonda física percep la superfície localment. Per adquirir una imatge, la sonda física es desplaça explorant petites zones de la mostra, mesurant simultàniament les propietats locals. Depenent de la interacció entre la punta de la sonda i la superfície de la mostra, l’AFM pot donar a conèixer informació sobre la topografia, l’estructura magnètica, la distribució de càrrega elèctrica, el contrast del material, la funció de treball, etc. amb una resolució inferior a 1 nm.

Més informació:

Call Now Button