Microscopi de forces atòmiques (AFM)

Equipament/Infraestructura


La microscopia de forces atòmiques (AFM) és una tècnica de rastreig d’alta resolució (<1 nm). Es base en una sonda física la punta de la qual es desplaça localment sobre la superfície d’un material permetent extreure algunes de les seves propietats, tals com la rugositat, la distribució de càrrega, l’estructura magnètica o la funció de treball.

 

Equips 

 

VEECO Multimode i VEECO Dimension 3100

 

Multimode Nanoscope (Bruker)

 

Microscope Keysight 5500LS i Microscope Keysight 5100

 

AFM/STM PicoPlus

 

 

 

 

 

 

Més informació:

Call Now Button