L’espectroscopia de raigs X és una tècnica de caracterització d’estat químic i estructura electrònica de superfícies d’un ampli rang de materials.
Equips:
Aarhus SPM 150 (UPC)
L’espectroscòpia fotoelectrònica de rajos X a pressió propera a l’ambiental (NAPP) estén les capacitats habituals de caracterització de XPS a l’estudi de les interfases gas-sòlid i gas-líquid, amb aplicacions per a la caracterització “in situ” de catalitzadors heterogenis, processos de corrosió, humectació, piles de combustible, fotovoltaica, etc. L’equip té un analitzador d’energia d’electrons hemisfèric (Phoibos NAP150 de SPECS) que pot funcionar a un rang de pressió de mostra des de UHV fins a 25 mbar gràcies a un sistema de bombeig diferencial que assegura una diferència de pressió de 109 entre el detector i la mostra.
Equips:
SPECS NAP-XPS (UPC)
BL24-CIRCE-NAPP (Sincrotró ALBA)
