Aquesta tècnica de microscòpia és capaç de produir imatges d’alta resolució de la superfície d’una mostra utilitzant les interaccions electró-material. Permet veure la morfologia, la topografia de la mostra i la seva composició química de manera semi-quantitativa. Ofereix la possibilitat d’analitzar mostres orgàniques i inorgàniques conductores o que hagin sigut tractades per ser-ho.
Equips:
Field-Emission (FEM-SEM) ZEISS Ultraplus amb sonda EDX iSonda EBSD d’OXFORD acoblada al microscopi electrònic (Eurecat)
Phenomen World, Phenom XL Desktop SEM (UPC)
ZEISS, DSM-960A (LEPAMAP, UdG)
FEI, Quanta 650 FEG ESEM (ICN2)
FEI Magellan 400L XHRSEM (ICN2)
Hitachi, SU1510 (Ecopol Tech)
Thermofisher Scientific, QUANTA FEI 200 FEG-ESEM (ICMAB)
Jeol Instruments, SEM TOUCHSCOPE JEOL JSM-6010LV (Leitat)
