La cristal·lografia de raigs X és una tècnica experimental per a l’estudi i anàlisi de materials, basada en el fenomen de difracció dels raigs X per sòlids en estat cristal·lí. Permet determinar i quantificar fases cristal·lines en pols, sòlids o films. És una tècnica de gran utilitat a l’hora de caracteritzar nous materials complexos.
Equips:
BRUKER, D8 Advance A25 (ICMAB)
Siemens D-5000 (ICMAB)
Bruker D8 DISCOVER (ICMAB)
Bruker D8 (ICMAB)
BRUKER, D8 Advance (UPC)
Panalytical, MPD (ICN2)
Panalytical, MRD (ICN2)
BL04-MSPD – detectors Multi Analyzer Detection (MAD) and high throughput position sensitive detector (Mythen) (Sincrotró ALBA)
Bruker apexii qazar single crystal x-ray diffractometer
