Caracterització de l’estructura cristal·lina utilitzant difracció de rajos X de sincrotró (XRD), caracterització de l’estructura atòmica i estat d’oxidació utilitzant l’espectroscòpia d’absorció de rajos X (XAS), caracterització de l’estructura electrònica utilitzant espectroscòpia de fotoemissió resolta en angle (ARPES) i caracterització de l’estructura magnètica amb les tècniques dicroisme circular magnètic de rajos X (XMCD) o dicroisme lineal magnètic de rajos X (XMLD).
