La microscòpia electrònica de fotoemissió de rajos X (PEEM) és una potent eina analítica en magnetisme superficial que permet obtenir imatges dels dominis magnètics d’una superfície. El microscopi es pot operar com a LEEM, LEED, PEEM (X o UV) amb una resolució espacial de 10 nm en els modes LEEM i UV-PEEM i fins a 20 nm en XPEEM. En el mode X-PEEM, els efectes XMCD i XMLD es poden utilitzar com a mecanismes per revelar un contrast ferromagnètic o antiferromagnètic. La temperatura pot variar-se entre els 100 K – 1500 K, i amb flaixos de curta durada es pot arribar fins als 2000 K.
Equips:
BL24-CIRCE-PEEM (Sincrotró ALBA)
