Microscopi electrònic d’escaneig secundari (SEM)

equipment


Aquesta tècnica de microscòpia és capaç de produir imatges d’alta resolució de la superfície d’una mostra utilitzant les interaccions electró-material. Permet veure la morfologia, la topografia de la mostra i la seva composició química de manera semi-quantitativa. Ofereix la possibilitat d’analitzar mostres orgàniques i inorgàniques conductores o que hagin sigut tractades per ser-ho.

Equips:

Field-Emission (FEM-SEM) ZEISS Ultraplus amb sonda EDX iSonda EBSD d’OXFORD acoblada al microscopi electrònic (Eurecat)

Phenomen World, Phenom XL Desktop SEM (UPC)

ZEISS, DSM-960A  (LEPAMAP, UdG)

FEI, Quanta 650 FEG ESEM (ICN2)

FEI Magellan 400L XHRSEM (ICN2)

Hitachi, SU1510 (Ecopol Tech)

Thermofisher Scientific, QUANTA FEI 200 FEG-ESEM (ICMAB)

Jeol Instruments, SEM TOUCHSCOPE JEOL JSM-6010LV (Leitat)

Més informació: