Microscopi de feix d’ions focalitzats (SEM FIB)

equipment


Equip amb doble columna iònica i electrònica per a l’observació de mostres sòlides. L’equip ofereix la possibilitat de realitzar talls selectius, deposicions de capes, tomografia tridimensional, anàlisi elemental i quantificació d’orientació cristal·lina.

 

Equips

 

Zeiss Neon 40

Més informació: