Espectrofotòmetre de Fotoelectrodes de Raigs X (XPS/ESCA i NAPP-XPS)

equipment


L’espectroscopia de raigs X és una tècnica de caracterització d’estat químic i estructura electrònica de superfícies d’un ampli rang de materials.

Equips:

XPS-ARUPS (ICN2)

Aarhus SPM 150 (UPC)

 

L’espectroscòpia fotoelectrònica de rajos X a pressió propera a l’ambiental (NAPP) estén les capacitats habituals de caracterització de XPS a l’estudi de les interfases gas-sòlid i gas-líquid, amb aplicacions per a la caracterització «in situ» de catalitzadors heterogenis, processos de corrosió, humectació, piles de combustible, fotovoltaica, etc. L’equip té un analitzador d’energia d’electrons hemisfèric (Phoibos NAP150 de SPECS) que pot funcionar a un rang de pressió de mostra des de UHV fins a 25 mbar gràcies a un sistema de bombeig diferencial que assegura una diferència de pressió de 109 entre el detector i la mostra.

Equips:

SPECS NAP-XPS (UPC)

BL24-CIRCE-NAPP (Sincrotró ALBA)

Més informació: