Les característiques topogràfiques i electròniques de les superfícies tenen efectes sobre l’adhesivitat, coeficient de fricció, integritat estructural, etc. L’anàlisi amb aquest microscopi (resolució lateral 10 nm i vertical de 0.1nm) ens permet fer mapes de la topografia de les superfícies, així com algunes de les seves propietats físiques (magnetització, piezoelectricitat, conductivitat) amb gran resolució espacial. El nostre microscopi és també únic en tant que ens permet escalfar mostres in-situ (fins a 300 ºC) o aplicar-ne camps magnètics, també in-situ, mentre fem les mesures
