La tecnologia de ICP-MS, AA i Forn de Grafit s´utilitzen per determinar el contingut metàl·lic de les nanopartícules o inclús de partícules no metàl·liques (P o S), difracció de Raig-X (DRX). Determinació de l’estructura cristal·lina, i de la composició de les camades més superficials. Calorimetria diferencial de rastreig (DSC). Anàlisi químic superficial per Espectroscòpia d’Energia Dispersiva de Raigs X (EDS). Anàlisi químic superficial per Espectroscòpia de Foto electrons (XPS). Anàlisi metal·logràfic de materials. Porosimetria per intrusió de mercuri (MIP). Espectroscòpia RAMAN. Espectroscòpia d’emissió atòmica. Espectroscòpia IR-FTIR. Estudis de degradació. Determinació de cinètiques en sistemes d’alliberament de fàrmacs. Determinació de la densitat aparent i real de materials i de la superfície especifica i la distribució de la micro, meso i macro porositat.
