La microscopia de forces atòmiques (AFM) és una tècnica de rastreig d’alta resolució (<1 nm). Es base en una sonda física la punta de la qual es desplaça localment sobre la superfície d’un material permetent extreure algunes de les seves propietats, tals com la rugositat, la distribució de càrrega, l’estructura magnètica o la funció de treball.
Equips:
VEECO Multimode (UPC)
VEECO Dimension 3100 (UPC)
NANOSURF MOBILE (UPC)
Multimode Nanoscope (Bruker) (ICN2)
Microscope Keysight 5500LS (ICMAB)
Microscope Keysight 5500 (ICMAB
Microscope Keysight 5100 (ICMAB)
Microscope Nanotech Cervantes (ICMAB)
