La tecnologia de ICP-MS, AA i Forn de Grafit s´utilitzen per determinar el contingut metàl·lic de les nanopartícules o inclús de partícules no metal.liques (P o S), difracció de Raig-X (DRX). S’utilitza per determinar la estructura cristal·lina, espectroscòpia de fotoelectrons emesos per raigs X i també per a determinar la composició de les camades més superficials.
Impulsa: 
