Difractòmetre de raigs X

Equipament/Infraestructura


La cristal·lografia de raigs X és una tècnica experimental per a l’estudi i anàlisi de materials, basada en el fenomen de difracció dels raigs X per sòlids en estat cristal·lí. Permet determinar i quantificar fases cristal·lines en pols, sòlids o films. És una tècnica de gran utilitat a l’hora de caracteritzar nous materials complexos.

Equips:

BRUKER, D8 Advance A25 (ICMAB)

Siemens D-5000 (ICMAB) 

Bruker D8 DISCOVER (ICMAB)

Bruker D8 (ICMAB)

BRUKER, D8 Advance (UPC)

Panalytical, MPD (ICN2)

Panalytical, MRD (ICN2)

BL04-MSPD – detectors Multi Analyzer Detection (MAD) and high throughput position sensitive detector (Mythen) (Sincrotró ALBA)

Més informació: